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  • 傳感器液態(tài)沖擊試驗(yàn)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)
    液態(tài)冷熱沖擊試驗(yàn)主要用于兩個(gè)裝置內(nèi)部的液體冷熱交替循環(huán)試驗(yàn)。冷熱沖擊試驗(yàn)是評(píng)價(jià)散熱器抗溫度交變循環(huán)能力的強(qiáng)化試驗(yàn),為冷卻器的設(shè)計(jì)提供試驗(yàn)數(shù)據(jù),也是驗(yàn)證冷熱交變溫度下非金屬-金屬連接件的可靠性,對(duì)保證換...
  • LED失效分析第三方專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)
    隨著LED應(yīng)用的飛速發(fā)展,其失效問(wèn)題也隨之表現(xiàn)的尤為突出,特別是LED隨機(jī)性不點(diǎn)燈以及燒燈等,是困擾產(chǎn)品可靠性壽命的關(guān)鍵問(wèn)題。廣電計(jì)量LED失效分析第三方專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)通過(guò)對(duì)LED內(nèi)部的微觀分析,確認(rèn)其...
  • 電磁繼電器電性能測(cè)試全國(guó)6大專項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室
    繼電器是一種自動(dòng)控制開(kāi)關(guān),當(dāng)其輸入端的物理量達(dá)到某一量值時(shí),其輸出端的狀態(tài)發(fā)生階躍式變化。繼電器廣泛應(yīng)用于遙控、遙測(cè)、通訊、自動(dòng)控制、機(jī)電一體化及電力電子設(shè)備中,是最重要的控制元件之一。廣電計(jì)量電磁繼...
  • PCB PCBA金相切片試驗(yàn)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)
    金相切片是電子行業(yè)中常用的產(chǎn)品內(nèi)部質(zhì)量評(píng)價(jià)方法。廣電計(jì)量PCB PCBA金相切片試驗(yàn)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)擁有完整的切片分析測(cè)試設(shè)備,經(jīng)驗(yàn)豐富的切片分析人才,能夠高效準(zhǔn)確的提供切片服務(wù)。
  • AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測(cè)試可加急檢測(cè)
    AD/D轉(zhuǎn)換器是將數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬量的電路,主要用于數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、醫(yī)療信息處理、電視信號(hào)的數(shù)字化、圖像信號(hào)的處理和識(shí)別、數(shù)字通信和語(yǔ)音信息處理等。對(duì)AD/DA轉(zhuǎn)換器進(jìn)行有效的檢測(cè),是提高...
  • 三端穩(wěn)壓器電性能測(cè)試強(qiáng)大專家技術(shù)團(tuán)隊(duì)
    三端穩(wěn)壓器主要包括兩種,一種輸出固定電壓,稱為固定輸出三端穩(wěn)壓器;另一種輸出可調(diào)電壓,稱為可調(diào)輸出三端穩(wěn)壓器。兩種穩(wěn)壓器基本原理相同,均采用串聯(lián)型穩(wěn)壓電路。在線性集成穩(wěn)壓器中,由于三端穩(wěn)壓器只有三個(gè)引...
  • 芯片級(jí)試驗(yàn)驗(yàn)證全國(guó)6大專項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室
    芯片級(jí)驗(yàn)證,包括對(duì)汽車芯片進(jìn)行電參數(shù)測(cè)試、功能驗(yàn)證、性能評(píng)估、結(jié)構(gòu)分析、環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證、可靠性評(píng)價(jià)等能力。廣電計(jì)量芯片級(jí)試驗(yàn)驗(yàn)證全國(guó)6大專項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室可提供芯片封裝完整性全面測(cè)試,包含引線鍵合拉力,芯片粘...
  • 芯片競(jìng)爭(zhēng)力分析第三方專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)
    廣電計(jì)量芯片競(jìng)爭(zhēng)力分析第三方專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)在芯片競(jìng)爭(zhēng)力分析方面積累的豐富經(jīng)驗(yàn),為系統(tǒng)設(shè)計(jì)商和設(shè)備提供商,提供量身定做的芯片整體解決方案。
  • 5G大規(guī)模集成電路芯片失效分析CNAS認(rèn)證
    廣電計(jì)量擁有專家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)的失效分析設(shè)備,對(duì)大規(guī)模集成電路可提供無(wú)損分析、電特性/電性定位分析、破壞性分析、微觀顯微分析等失效分析測(cè)試、5G大規(guī)模集成電路芯片失效分析CNAS認(rèn)證。
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